觀點網訊：10月18日，在2026年全國電子顯微學學術年會上，國儀量子發佈自主研發的200kV場發射透射電鏡TEM-F200，同期發佈120kV場發射透射電鏡TEM-F120。

TEM-F200信息分辨率為0.10nm，預計12月起接收測樣申請。

核心部件方面，TEM-F200採用自研高壓電源，加速電壓穩定性小於10ppm/h，加速高壓紋波小於0.5ppm，配高亮度場發射電子槍。主相機為自主研製的“星耀-16M”光纖耦合CMOS相機，採用9μm像元CMOS傳感器，4K×4K像素，1:1光纖耦合，全分辨率最高幀率24fps，合併像素後最高幀率優於96fps。

元素分析配置為Super-EDS超大面積極譜，採用對插式雙探頭，SDD總探測面積200mm²，無窗設計，能量分辨率≤127eV。

物鏡採用恆功率水冷設計；樣品臺為X/Y/Z/α四軸，配雙傾樣品杆可實現五軸，傾轉角α為±30°、β為±25°；聚光鏡光闌、物鏡光闌、選區光闌全自動控制，集成於PC端。

另一款產品TEM-F120綜合換樣時間小於5分鐘，電鏡空間與工作空間分離，更加適配生命科學、常規材料科研等場景。